MittausjärjestelmäASML
YieldStar S-200B
Mittausjärjestelmä
ASML
YieldStar S-200B
Valmistusvuosi
2011
Kunto
Käytetty
Sijainti
Dresden 

Näytä kuvat
Näytä kartta
Konetiedot
- Koneen kuvaus:
- Mittausjärjestelmä
- Valmistaja:
- ASML
- Malli:
- YieldStar S-200B
- Valmistusvuosi:
- 2011
- Kunto:
- erittäin hyvä (käytetty)
- toiminnallisuus:
- täysin toimintakuntoinen
Hinta ja sijainti
Tarjouksen tiedot
- Listaustunnus:
- A19967480
- Viitenumero:
- DV10125
- Päivitetty viimeksi:
- 10.09.2025
Kuvaus
Optinen overlay-metrologiajärjestelmä, Advanced Semiconductor Materials Lithography itsenäinen overlay-metrologiajärjestelmä 300 mm kiekkojen mittaukseen, YieldStar S 200B
Malli: S200B
Tyyppi: YieldStar
Valmistusvuosi: 2011
Tekniset tiedot:
Kiekon koko: 300 mm (12")
Laserlähde: LPPS, vesijäähdytys
Dcjdpoxbnt Esfx Acwsn
Yleistä:
YSS200B on optinen overlay-mittausjärjestelmä, jota käytetään nopeaan ja erittäin tarkkaan overlay-poikkeamien mittaukseen 300 mm kiekoilla – tyypillisesti etsausvaiheen jälkeiseen valvontaan ja tuotantoprosessin ohjaukseen itsenäisenä järjestelmänä.
Mainos käännettiin automaattisesti ja käännösvirheet ovat mahdollisia.
Malli: S200B
Tyyppi: YieldStar
Valmistusvuosi: 2011
Tekniset tiedot:
Kiekon koko: 300 mm (12")
Laserlähde: LPPS, vesijäähdytys
Dcjdpoxbnt Esfx Acwsn
Yleistä:
YSS200B on optinen overlay-mittausjärjestelmä, jota käytetään nopeaan ja erittäin tarkkaan overlay-poikkeamien mittaukseen 300 mm kiekoilla – tyypillisesti etsausvaiheen jälkeiseen valvontaan ja tuotantoprosessin ohjaukseen itsenäisenä järjestelmänä.
Mainos käännettiin automaattisesti ja käännösvirheet ovat mahdollisia.
ASIAKIRJAT
19967480-01.pdf (PDF)Toimittaja
Huomautus: Rekisteröidy ilmaiseksi tai kirjaudu sisään, saadaksesi kaikki tiedot.
Rekisteröity alkaen:: 2014
Puhelin & Faksi
+49 351 8... ilmoitukset
Ilmoituksesi on poistettu onnistuneesti
Tapahtui virhe