Bruker prosessispektrometri MATRIX-F

Bruker MATRIX-F

Kunto: käytetty, Spectro Tyyppi: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Päiväys: 24.07.2020 Täysanalyysi kiinteällä kipinäspektrometrillä SpectroMaxX: Kipinäspektrometrin avulla voidaan määrittää makroskooppisten kiinteiden näytteiden seosainepitoisuudet ja vierasaineet erittäin tarkasti ppm-tasolle asti. Perusmetalleille – rauta, alumiini, magnesium, kupari, nikkeli, titaani ja lyijy – on saatavilla useita eri mittausmenetelmiä, jotka on räätälöity vastaavien seosryhmien mukaan. Edut: - Nopea analyysi muutamissa sekunneissa - Erittäin tarkka spektrianalyysi, sisältäen C ja N - Kompakti pöytämalli Käyttöalueet / Sovellus: - 31 raudan- ja ei-rautametallin kemiallisen koostumuksen testaus - Typen ja muiden alkuaineiden määritys Laitteen kuvaus: - Avoin kipinöintipaikka suuren näytemäärän käsittelyyn - Eri näytemuodot mahdollisia - Helppo peruselementin vaihto - Saatavilla olevina perustana: Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb - Analysoitavat alkuaineet sekä pitoisuustasot riippuvat peruselementille soveltuvista metodeista - Käytettävissä oleva aallonpituusalue 170–670 nm - Mittaustulosten ulostulo konsentraatioina tai intensiteetteinä - Valittavat yksiköt (% tai ppm) - Tilastolliset tunnusluvut (keskiarvo, RSD) SPECTROMAXx LMX08 Tekniset tiedot: CCD-optikka: - Korkearesoluutioiset CCD-monidetektorit - Lämpötilavakautettu - Tehokas aallonpituusalue: 140–670 nm, varsinainen käytetty ja konfiguroitu alue määritellään asiakkaan sovellustarpeen mukaan - Automatisoitu profilointi Ijdpfou S Ahqsx Aafjtr Analyysimoduulit: - Vapaasti valittavat analyysimoduulit - Optimoitu asiakkaan tarpeiden mukaan - Lisämoduulien jälkiasennus mahdollista paikan päällä Kipinöintipaikka: - Avoin rakenne suuren näytemäärän käsittelyyn ja eri näytemuodoille - Minimoitu argoninkulutus säästömoduulin ansiosta - Optimoitu argonvirtaus - Harvemmat puhdistusvälit - Kipinöintilevy helposti vaihdettavissa - Lämpöä absorboiva rakenne ilman vesijäähdytystä - Integroidulla suljinjärjestelmällä optimaalinen plasmanäkyvyys Sytytysjärjestelmä: - Täysin digitalisoitu plasman generaattori digitaalisella purkauksen säädöllä, pulssin muodostuksella ja offline-pulssinohjauksella - 32 MHz mikro-ohjain - Maks. kipinäkesto: 4000 µs - Maks. kipinäteho: 4 kW Näyttöjärjestelmä: - Oma mikro-ohjain jokaiselle CCD:lle - Sarjaporttilähtö Spektrometri: - Ulkoinen, nykyaikainen tietokone - Windows-käyttöjärjestelmä, näppäimistö ja hiiri Seuranta Ohjelmisto: - Spark Analyzer Pro MAX -ohjelmisto analyysitoimintaa ja kalibrointia varten - Jatkuva automaattinen laiteanalyysi taustalla - Automaattinen seoksen/laadun tunnistus ja varmistus - Tulosten hallinta - Online-huoltoajastin Ympäristöolosuhteet: - Huonelämpötila: 10–30 °C - Suhteellinen kosteus:

Kunto: lähes uudenveroinen (käytetty), Valmistusvuosi: 2024, Toiminnallisuus: täysin toimintakuntoinen, Zeiss XB 350 pyyhkäisyelektronimikroskooppi Varusteet ja tarvikkeet • Ilman FIB-saraketta • SmartSEM- ja SmartFIB-ohjelmistot • GIS Pt-esisäilijällä • Integroitu plasmapesuri • EDX Oxford Xplore 30 (sis. liitännän ja ohjelmiston) • Automaattinen 200 mm ilmanlukko • Sähkönläpäisy (2 x 15 kanavaa) • Kiertojäähdytin • Quiet Mode -vakuumipuskurisäiliö • ... sekä pöytä, näyttö, ohjauskonsolit (Zeissin oma näppäimistö + joystick) ja useita näytetelineitä Käyttöönotto: elokuu 2024 Sijainti: Mainz Saatavuus: Saatavilla lyhyellä varoitusajalla sopimuksen mukaan. Laite on edelleen käytössä ja sen voi mielellään tarkastaa ja esitellä. Iedpfow Rdvvox Aafjtr Laitteessa ei ole vikoja eikä vaurioita, ja se on täysin toimintakuntoinen. Lisätietoja pyynnöstä!

Kunto: käyttövalmis (käytetty), Asteikot: Rockwell/Rockwell-Superficial, maks. työkappaleen korkeus: noin 180 mm, maks. mittaussyvyys: noin 165 mm, viiveaika: noin 3 s, datalähtö: Digimatic/RS-232-C, koneen mitat X/Y/Z: noin 250 mm/520 mm/780 mm, paino: noin 50 kg. Dokumentaatio saatavilla. Paikan päällä tarkastus mahdollista. Iodpfx Aaoxc Niwsfetr