HITEC-mittausmikroskooppi QZW 1, 250 x 170 mm

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Kunto: erittäin hyvä (käytetty), Toiminnallisuus: täysin toimintakuntoinen, Tarjoamme täällä huippuluokan HITEC QZW 1 mittausmikroskoopin, tyyppi 400 x 250 mm. M3-ohjelmisto: automaattinen reunantunnistus, toleranssitarkastus DIN/ISO-standardien mukaan, elementtinäkymä toleranssinsyötöllä, osanäkymä mittamerkinnöillä, reaaliaikainen kuva mittauksen aikana sekä mahdollisuus tallentaa lisäkuvia dokumentointiin. Dell Touch PC, jossa Windows 10 (päivitettävissä versioon 11) Kalibrointitodistus voimassa 31.07.2025 asti MITTAUSALUE X-, Y-AKSELI: 400 x 250 mm PITUUDEN MITTAUSPOIKKEAMA: 4 μm + L/100 (L mm) MITTAUSALUE Z-AKSELI: 150 mm / vaihtoehtoisesti 350 mm MITTAUSJÄRJESTELMÄ Z-AKSELI: vaihtoehtoinen KAMERA: USB 3.0, 25 kuvaa/s, 2,0 megapikseliä OBJEKTIIVI: Kiinteä objektiivi / vaihtoehtoisesti zoomobjektiivi 0,7x–4,5x (manuaali/moottoroitu) SUURENNOS: 40x tai 35x–225x (zoomobjektiivi) KUVAN ALUE: 8 mm tai 9 mm – 1,5 mm (zoomobjektiivi) PINTAVALAISTUS: 4-segmenttinen LED-rengasvalo (vaihtoehtoisesti koaksiaalinen valastus) LÄPIVALAISU: LED (vaihtoehtoisesti telecentrinen) SIJOITTELUAPU: Laserpointer TYÖPÖYDÄN KANTOKYKY: max. 20 kg TOIMITUKSEN SISÄLTÖ: QZW1, 23" kosketusnäyttö-PC, M3-ohjelmisto, kalibrointitodistus, käyttöohje Sovellusmahdollisuudet: Lodpfx Agsxwb Dpsnohp QZW1-tuotesarja tukee tarkkojen, toistettavien mittausten suorittamista monimutkaisille työkappaleille, riippumatta niiden materiaalista. Erilaiset vaihtoehdot, kuten zoomobjektiivi, erilaiset Z-akselin pituudet ja erikokoiset mittauspöydät, tarjoavat QZW1-mikroskooppisarjalle kattavat mahdollisuudet osakohtaisiin mittaustarpeisiisi.