Mittausjärjestelmä

Leica EM TXP

EM TXP on ainutlaatuinen laite, joka on kehitetty erilaisten materiaalien ja materiaalikombinaatioiden tarkkaan valmisteluun alueilla, joissa esiintyy paikallisia pieniä vikoja. Laitetta käytetään erityisesti vaativien, pienten ja vaikeasti käsiteltävien näytteiden sahaamiseen, jyrsimiseen, hiomiseen ja kiillottamiseen, jossa työvaiheita seurataan stereomikroskoopilla ja lopullinen tutkimus suoritetaan pyyhkäisyelektronimikroskoopilla tai valomikroskoopilla ilman työvaiheiden keskeyttämistä.
EM TXP sopii erinomaisesti myös materiaalien esivalmisteluun, joihin on tarkoitus tehdä vinoleikkaus ionikiillotuslaitteella.

Toimitukseen sisältyy seuraavat lisävarusteet:
1 kpl M80 stereomikroskooppi, kokonainen
1 kpl ristikkolevy M80, 12 mm
1 kpl liikkuva objektiiviadapteri M80:lle
1 kpl kulmasäädettävä adapteri
2 kpl timanttiterälevy
1 kpl erikoisjyrsin, 6 mm Ø timanttiterä
1 kpl erikoisjyrsin, 12 mm Ø timanttiterä
1 kpl erikoisjyrsin, 8 mm Ø kovametallijyrsin
1 kpl erikoisjyrsin, 12 mm Ø kovametallijyrsin
5 kpl karat
3 kpl kannattimia hiontakalvolle
Gisdpfx Adjytrwajkop
1 kpl hiontakalvo 15µm, SiC, Ø 30 mm
1 kpl hiontakalvo 9µm, SiC, Ø 30 mm
1 kpl hiontakalvo 5µm, SiC, Ø 30 mm
3 kpl kannattimia hiontakalvolle
1 kpl hiontakalvo 9µm, timantti (tyyppi U)
1 kpl hiontakalvo 2µm, timantti (tyyppi U)
1 kpl hiontakalvo 0,5µm, timantti (tyyppi U)
1 kpl hiontakalvo 0,1µm, timantti (tyyppi LA)
3 kpl kannattimia hiontakalvolle
1 kpl hiontakalvo 9µm, alumiinioksidi
1 kpl hiontakalvo 3µm, alumiinioksidi
1 kpl hiontakalvo 1µm, alumiinioksidi
1 kpl hiontakalvo 0,3µm, alumiinioksidi
1 kpl neopreeniliina viimeistelykiillotukseen (8 kpl)
2 kpl rasiaa kannattimille ja kalvoille
1 kpl pidike litteille näytteille 0–4 mm
1 kpl tasomainen näytepidin 3–8 mm
1 kpl TXP SEM STUB -pidin
1 kpl universaali näytepidin

Ilmoitus on käännetty automaattisesti. Käännösvirheitä saattaa esiintyä.