Kiinteä metallianalysaattori

Spectro SPECTROLAB F / LAVFC01A

Valmistaja: SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG
Tyyppi: SPECTROLAB F / LAVFC01A
Valmistusvuosi: 2004
Projekti-/tilausnumero: 16996/04
Laborinro: 116996-04
Kiinteä metallianalysaattori / OES-kipinäspektrometri kupariseoksille

Kiinteä SPECTRO SPECTROLAB F -metallianalysaattori materiaalien kvantitatiiviseen analyysiin
optisen emissiospektrometrian (OES/kipinäspektrometria) avulla.
Järjestelmä on saatavilla olevan alkuperäisen dokumentaation mukaan suunniteltu
kuparipohjaisten materiaalien analysointiin. Asennetut tai dokumentoidut ohjelmat ovat CU-00
kuparipohjan standardointiin, CU-20 Cu/Zn-seoksille ja CU-70 Cu/Al-
seoksille.
Spektrometrissä on kolme dokumentoitua optiikkaa ja mittauskanavaa useille
seosaineille ja lisäaineille. Se tunnistaa muun muassa Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni,
Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P ja S.
Laitteelle on saatavilla kattava alkuperäinen dokumentaatio, mukaan lukien testaus- ja
fotomonitoriprotokollat, konfiguraatiotiedot, standardointitiedot sekä
käyttöohje Spark Analyzer Vision -ohjelmistolle. Lisäksi on saatavilla erilaisia
uudelleenkaliibrointi-/vertailunäytteitä ja lisävarusteita.
Saatavilla oleva analyysituloste 20.12.2022 osoittaa järjestelmän käytännön käytön
CuZn40Pb2-materiaalien analysointiin. Tulosteessa on mittaustuloksia useille
seos- ja hivenaineille.

Käytetty kunto, iästä ja käytöstä johtuvia käytön jälkiä.
Laite on vuodelta 2004. Kattava laitespesifinen dokumentaatio, lisävarusteet
ja uudelleenkaliibrointi-/vertailunäytteet ovat saatavilla. Materiaalianalyysien
käyttöä tai suorittamista on dokumentoitu saatavilla olevilla analyysitulosteilla
joulukuulta 2022.

Toimituksen sisältö:
• SPECTRO SPECTROLAB F -metallianalysaattori
• saatavilla olevat uudelleenkaliibrointi-/vertailunäytteet
• erilaisia näytteitä ja standardeja
• kaapelisarja tai saatavilla olevat liitäntäjohdot
• pieniä osia ja kulutustarvikkeita
• adapteri pienille osille
• saatavilla olevat boorinitridilevyt
• saatavilla olevat SPECTRO-lisävarusteet
• ohjelmisto-/tiedostot, mukaan lukien SPECTRO Data Backup
• dokumentaatio ja testausasiakirjat
• Spark Analyzer Vision -käyttöohje
• DIA 2000 / DIA2000SE -tiedot
• fotomonitorin testausprotokollat
• konfiguraatio- ja standardointitiedot

PC, näyttö ja tulostin on lueteltu alkuperäisissä toimitusasiakirjoissa.

Mittausmenetelmä: Optinen emissiospektrometria (OES) / Kipinäspektrometria
Tyyppi: Kiinteä metallianalysaattori
Lukujärjestelmä: MIKRO 8
Kalibrointi: Kuparipohja
Käyttökohteet: Cu-20 / Cu-70
Standardointi: CU-00 – Kuparipohja
Asennetut ohjelmat:
CU-00 – Kuparipohjan standardointi
CU-20 – Cu/Zn-seokset
CU-70 – Cu/Al-seokset
Optinen järjestelmä:
1 × UV-optiikka, dokumentoitu 6 linjalla
2 × ilmoptiikkaa, dokumentoitu 13 / 7 linjalla
Optiikka 1: 3600 / 750
Optiikka 2: 3600 / 750
Optiikka 3: 2400 / 750
Monokromaattori: Ei
Virityslähde: 3000 / 300 Hz / Puhdas Ar
Käyttöjännite: 230 V
Verkkotaajuus: 50 Hz
Käyttökieli: Saksa
Dokumentoidut aineet:
Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S

Fotomonitori: Pääasiassa R6350, yksittäiset UV-kanavat R6351 testausasiakirjojen mukaisesti
Dedjzx Dwnopfx Ap Eekt
Ohjelmisto dokumentaation mukaan: DIA 2000 Basis / DIA2000SE, Spark Analyzer Vision
Spark Analyzer Vision -ohjekirja: Versio 09/2004
dokumentoitu ohjelmistoversio: 1.40.0xx

Ilmoitus on käännetty automaattisesti. Käännösvirheitä saattaa esiintyä.