Komponentti

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Valmistusvuosi: 2025, Kunto: uusi, Röntgeninjektiotarkastusjärjestelmä keskisuurille pakkauksille ja pusseille. Soveltuu metallin, lasin, kiven, muovin ym. vierasesineiden tunnistamiseen elintarvikkeissa tai non-food-tuotteissa. - Tekniset tiedot: Kuljetinhihnan leveys: 410 mm; Tunnistustarkkuus: Lyijy alkaen Ø 0,2 mm, rauta alkaen Ø 0,28 mm, ruostumaton teräs alkaen Ø 0,28 mm, ei-metalliset kuten kivi, lasi alkaen Ø 1,2 mm; Röntgenteho: 80 kVp, 1,25 mA; Detektorin resoluutio: 0,4 mm; Röntgensäteilyn emissio: < 1 µSv/h; Kuljetinhihnan korkeus: 850 ± 30 mm; Kuljetinhihnan nopeus (tuotteesta riippuen): 10–100 m/min; Käyttöliittymä: 15" kosketusnäyttö; Ohjelmisto: intellisens® X-ray; Käyttölämpötila: 5–35 °C; Poistojärjestelmä: saatavana vaatimusten mukaan lisävarusteena; Virta: 220VAC, 50/60Hz; Järjestelmän mitat: P900xL920xK1825 mm; Paino: 350 kg. Huomioithan, että uudet hinnat ovat usein alemmat kuin vastaavien käytettyjen koneiden hinnat. Kysy rohkeasti ja kerro meille pakkaustehtäväsi. - Varastosta on yleensä heti saatavilla 30–50 erilaista täysin uutta konetta. Lisäksi asiakaskohtaisille koneille toimitusaikamme ovat erittäin lyhyet, alkaen noin 3 viikosta. - Kaikilla koneilla on täysi takuu. Knedpfov Nm Inox Aafof

Kunto: Viallinen varaosateline (käytetty), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 röntgenfluoresenssianalysaattori – varaosalaite / viallinen Tuotekuvaus: Myynnissä käytetty Oxford Instruments X-Strata 960 -tyyppinen röntgenfluoresenssianalysaattori. Laite on peräisin laboratorion purkamisesta ja myydään ainoastaan varaosien lähteeksi tai korjaustarkoituksiin. Toimintakuntoa ei ole testattu, joten laite katsotaan myyntiehdoin vialliseksi. Tekniset tiedot – Oxford Instruments X-Strata 960 (ei sitovia) Ominaisuus Kuvaus Malli: X-Strata 960 Valmistaja: Oxford Instruments Analyysimenetelmä: Röntgenfluoresenssianalyysi (XRF) Käyttökohteet: Kerrospaksuusmittaus, materiaalin analyysi, jalometallien tarkastus Mittausgeometria: Päältä- tai alta- säteily, kokoonpanosta riippuen Säteilyn lähde: Röntgenputki (esim. rodiumanodi), 50–100 W teho Detektori: Proportiolaskuri tai piidriftidetektori (SDD), versiosta riippuen Mittausalue: Kerrospaksuus n. 0,005 – 50 μm (materiaalista riippuen) Spottikoko: n. 15 μm – 1 mm (kollimaattorista riippuen) Z-akseli: Moottoroitu, n. 230 mm mittauskorkeuteen asti Näytetila (L × S × K): n. 580 × 510 × 230 mm Näytetasopöytä: Manuaalinen tai moottoroitu (200 × 200 mm tai suurempi, varustuksesta riippuen) Tarkennusjärjestelmä: Optinen / lasertarkennus, osittain automaattinen Käyttöjärjestelmä: Integroitu teollisuus-PC Windows-pohjaisella analyysiohjelmistolla Virtalähde: 220–240 V / 50–60 Hz / n. 500–800 W Laitteen paino: n. 150–200 kg (versiosta riippuen) Kunto: käytetty / viallinen / varaosalaite Toimitussisältö: kuvien mukaisesti – ilman lisävarusteita tai ohjelmistoa Tärkeää huomioitavaa: Myydään nimenomaan viallisena laitteena ilman toimivuustakuuta. Artikkelia tarjotaan varaosiksi tai harrastajille. Ei takuuta toiminnasta, täydellisyydestä eikä teknisistä tiedoista. Kaupallinen myynti ilman mitään oikeudellista vastuuta, Saksan BGB §447 mukaan (lähetysmyynti). Kodpohaapfjfx Aafonf Toimitussisältö: Oxford Instruments X-Strata 960 Kaikki kuvissa näkyvät komponentit Muita osia, tarvikkeita tai dokumentaatiota ei sisälly, ellei erikseen mainittu. Toimitus & nouto: Nouto mahdollinen ja ensisijainen: Borken Toimitus mahdollista sopimuksen mukaan. (Teknisten tietojen muutokset ja virheet mahdollisia – tiedot eivät ole sitovia!) Lisäkysymykset mielellään puhelimitse.

Valmistusvuosi: 2016, Kunto: erittäin hyvä (käytetty), Automaattinen röntgeninspektio BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- ja muiden juotosten tarkastukseen, jotka voivat olla näkyviä tai piilotettuja. Muut tiedot: Sisältää offline-aseman ja korjausaseman Kedpfx Aaswpuadjfenf Käyttöjärjestelmä: Windows 7 Ultra-nopea linjaskannaus CCD-kennot Tarkastusalue: 450 mm - 400 mm Kuvantaminen: 2D, 2,5D, 3D (kerroskuvat planar CT:llä) Piirikortin mitat: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-tarkkuus: 6 - 30 µm / px AOI: Kameran näkökenttä: 42 mm x 42 mm Tarkkuus: 21 µm Tarkastuskorkeus: -3 – 7,5 mm Optiikka: telecentrinen Kuljetuskorkeus: 950 mm +/- 25 mm Rajapinta: SMEMA Leveyssäätö: automaattinen

Valmistusvuosi: 2016, Kunto: käyttövalmis (käytetty), Tarjolla on uudenveroinen Anritsu-röntgentarkastusjärjestelmä. Röntgenteho: 100W, enimmäisdetektioleveys: 240 mm, enimmäisdetektiokorkeus: 120 mm, tunnistusnopeudet: 2–5 kg 10–60 m/min, alle 2 kg 60–90 m/min, 5–10 kg 10–40 m/min. Kotelorakenne ruostumatonta terästä, koneen paino noin 255 kg. Käyttötunnit alle 50 h. Kuljetinhihnassa tai säteilyturvaverhoissa ei merkkejä kulumisesta. Dokumentaatio saatavilla. Koneeseen voi tutustua paikan päällä. Knsdpfx Aovzr Auoafsf

Kunto: käytetty, PANalytical X’Pert PRO MPD Röntgendiffraktometri (XRD) Ote huoltoraportista: Laite: PANalytical X’Pert PRO MPD Päiväys: 07.07.2021 Suoritetut työt: - Järjestelmän uudelleenasennus ja käyttöönotto - Ulkoisten syöttöjohtojen kytkentä - Lämpenemisvaihe - Goniometrin ja muiden komponenttien täysi säätö - Huolto ja viallisten osien vaihto Käytetyt varaosat: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, NI-CD PUHALLIN X-CELERATOR YKSIKKÖÖN SUODATIN, VESI Moottori PW3050 ("Laitetta ei ole testattu meillä") X’Pert PRO MPD on erittäin monipuolinen ja tehokas röntgendiffraktometri (XRD) kiteisten materiaalien rakenteelliseen karakterisointiin – ihanteellinen sekä puhtaaseen tutkimukseen että teollisuuden ja yliopistojen rutiinisovelluksiin. Modulaarisen rakenteen, nopean datankeruun, lämpötila- ja kaasuatmosfäärikontrollin ansiosta se soveltuu sekä rutiinianalyyseihin että vaativiin in-situ-kokeisiin. Tärkeimmät ominaisuudet: - Useat mittausgeometriat mahdollisia: - Heijastus Bragg-Brentano (θ–2θ) -moodissa - Läpäisygeometria kapillaareissa oleville jauhenäytteille - Valinnaisesti myös SAXS (pienen kulman röntgendiffraktio) nanorakenteille - Sädelähde ja detektorit: - Useimmiten kuparianodi (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - X’Celerator-ilmaisin (1D, erittäin nopea) rinnakkaiseen datankeruuseen - Modulaarinen järjestelmä PreFIX-tekniikalla: - Nopea optiikoiden ja näytetasojen vaihto ilman uudelleenkalibrointia - In-situ mittaukset korkeissa lämpötiloissa: - Mittaukset jopa n. 1200°C asti - Ohjattu atmosfääri: ilma, typpi, happi (rajoitetusti pelkistävä) Tyypilliset sovellukset: - Faasianalyysi ja kvantitatiivinen Rietveld-analyysi - Kiteenkokojen, mikrodeformaation, jäännösjännitysten määritys - In-situ-tutkimukset faasimuutoksista, hapettumisesta, kiteytymisestä jne. - SAXS-mittaukset nanopartikkelien ja huokosrakenteiden analyysiin - Laaja näytevalikoima: jauheet, ohutkalvot, keraamit, lääkkeet, katalyytit jne. Tekniset tiedot (tyypillisiä arvoja): - Kulma-alue: n. 0,5° – 150° - Askelkoko: jopa 0,002° tai hienompi - Goniometri: pystysuora, 0–0, säde n. 240 mm - Lämpötila-alue: huonelämpötilasta n. 1200 °C asti - Atmosfääri: ilma, N₂, O₂ (rajoitetusti pelkistävä) Ksdpfx Aajwycatefjnf - Ilmaisimet: X’Celerator (1D), propotioinalilaskija Käyttökohteita: X’Pert PRO MPD on käytössä maailmanlaajuisesti, mm.: - Yliopistoissa (esim. ETH Zürich, TU Dresden, Wienin yliopisto) - Tutkimuslaitoksissa (esim. Max-Planck-instituutit, ICN2, IS2M) - Teollisuudessa (materiaalikehitys, lääketeollisuus, kemianteollisuus) Kunto: käytetty / used Toimitussisältö: (ks. kuva) (Tekniset tiedot ja tiedot voivat muuttua, virhevarauksin.) Lisätiedot ja kysymykset puhelimitse.

Kunto: hyvä (käytetty), Helmut Fischer Fischerscope Röntgenfluoresenssikerrosmittaus XDL-XYmZ Knodpfxow Hbkde Aafef