Komponentti

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Valmistusvuosi: 2025, Kunto: uusi, Röntgeninjektiotarkastusjärjestelmä keskisuurille pakkauksille ja pusseille. Soveltuu metallin, lasin, kiven, muovin ym. vierasesineiden tunnistamiseen elintarvikkeissa tai non-food-tuotteissa. - Tekniset tiedot: Kuljetinhihnan leveys: 410 mm; Tunnistustarkkuus: Lyijy alkaen Ø 0,2 mm, rauta alkaen Ø 0,28 mm, ruostumaton teräs alkaen Ø 0,28 mm, ei-metalliset kuten kivi, lasi alkaen Ø 1,2 mm; Röntgenteho: 80 kVp, 1,25 mA; Detektorin resoluutio: 0,4 mm; Röntgensäteilyn emissio: < 1 µSv/h; Kuljetinhihnan korkeus: 850 ± 30 mm; Kuljetinhihnan nopeus (tuotteesta riippuen): 10–100 m/min; Käyttöliittymä: 15" kosketusnäyttö; Ohjelmisto: intellisens® X-ray; Käyttölämpötila: 5–35 °C; Poistojärjestelmä: saatavana vaatimusten mukaan lisävarusteena; Virta: 220VAC, 50/60Hz; Järjestelmän mitat: P900xL920xK1825 mm; Paino: 350 kg. Huomioithan, että uudet hinnat ovat usein alemmat kuin vastaavien käytettyjen koneiden hinnat. Kysy rohkeasti ja kerro meille pakkaustehtäväsi. - Varastosta on yleensä heti saatavilla 30–50 erilaista täysin uutta konetta. Lisäksi asiakaskohtaisille koneille toimitusaikamme ovat erittäin lyhyet, alkaen noin 3 viikosta. - Kaikilla koneilla on täysi takuu. Knsdpev Nm Inofx Aafef

Kunto: Viallinen varaosateline (käytetty), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 röntgenfluoresenssianalysaattori – varaosalaite / viallinen Tuotekuvaus: Myynnissä käytetty Oxford Instruments X-Strata 960 -tyyppinen röntgenfluoresenssianalysaattori. Laite on peräisin laboratorion purkamisesta ja myydään ainoastaan varaosien lähteeksi tai korjaustarkoituksiin. Toimintakuntoa ei ole testattu, joten laite katsotaan myyntiehdoin vialliseksi. Tekniset tiedot – Oxford Instruments X-Strata 960 (ei sitovia) Ominaisuus Kuvaus Malli: X-Strata 960 Valmistaja: Oxford Instruments Analyysimenetelmä: Röntgenfluoresenssianalyysi (XRF) Käyttökohteet: Kerrospaksuusmittaus, materiaalin analyysi, jalometallien tarkastus Mittausgeometria: Päältä- tai alta- säteily, kokoonpanosta riippuen Säteilyn lähde: Röntgenputki (esim. rodiumanodi), 50–100 W teho Detektori: Proportiolaskuri tai piidriftidetektori (SDD), versiosta riippuen Mittausalue: Kerrospaksuus n. 0,005 – 50 μm (materiaalista riippuen) Spottikoko: n. 15 μm – 1 mm (kollimaattorista riippuen) Z-akseli: Moottoroitu, n. 230 mm mittauskorkeuteen asti Näytetila (L × S × K): n. 580 × 510 × 230 mm Näytetasopöytä: Manuaalinen tai moottoroitu (200 × 200 mm tai suurempi, varustuksesta riippuen) Tarkennusjärjestelmä: Optinen / lasertarkennus, osittain automaattinen Käyttöjärjestelmä: Integroitu teollisuus-PC Windows-pohjaisella analyysiohjelmistolla Virtalähde: 220–240 V / 50–60 Hz / n. 500–800 W Laitteen paino: n. 150–200 kg (versiosta riippuen) Kunto: käytetty / viallinen / varaosalaite Toimitussisältö: kuvien mukaisesti – ilman lisävarusteita tai ohjelmistoa Tärkeää huomioitavaa: Myydään nimenomaan viallisena laitteena ilman toimivuustakuuta. Artikkelia tarjotaan varaosiksi tai harrastajille. Ei takuuta toiminnasta, täydellisyydestä eikä teknisistä tiedoista. Kaupallinen myynti ilman mitään oikeudellista vastuuta, Saksan BGB §447 mukaan (lähetysmyynti). Toimitussisältö: Oxford Instruments X-Strata 960 Kaikki kuvissa näkyvät komponentit Muita osia, tarvikkeita tai dokumentaatiota ei sisälly, ellei erikseen mainittu. Toimitus & nouto: Kodohaapfspfx Aafsnf Nouto mahdollinen ja ensisijainen: Borken Toimitus mahdollista sopimuksen mukaan. (Teknisten tietojen muutokset ja virheet mahdollisia – tiedot eivät ole sitovia!) Lisäkysymykset mielellään puhelimitse.

Valmistusvuosi: 2016, Kunto: erittäin hyvä (käytetty), Automaattinen röntgeninspektio BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- ja muiden juotosten tarkastukseen, jotka voivat olla näkyviä tai piilotettuja. Muut tiedot: Sisältää offline-aseman ja korjausaseman Käyttöjärjestelmä: Windows 7 Ultra-nopea linjaskannaus CCD-kennot Kjdpfxjwpuado Aafonf Tarkastusalue: 450 mm - 400 mm Kuvantaminen: 2D, 2,5D, 3D (kerroskuvat planar CT:llä) Piirikortin mitat: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-tarkkuus: 6 - 30 µm / px AOI: Kameran näkökenttä: 42 mm x 42 mm Tarkkuus: 21 µm Tarkastuskorkeus: -3 – 7,5 mm Optiikka: telecentrinen Kuljetuskorkeus: 950 mm +/- 25 mm Rajapinta: SMEMA Leveyssäätö: automaattinen

Valmistusvuosi: 2016, Kunto: käyttövalmis (käytetty), Tarjolla on uudenveroinen Anritsu-röntgentarkastusjärjestelmä. Röntgenteho: 100W, enimmäisdetektioleveys: 240 mm, enimmäisdetektiokorkeus: 120 mm, tunnistusnopeudet: 2–5 kg 10–60 m/min, alle 2 kg 60–90 m/min, 5–10 kg 10–40 m/min. Kotelorakenne ruostumatonta terästä, koneen paino noin 255 kg. Käyttötunnit alle 50 h. Kuljetinhihnassa tai säteilyturvaverhoissa ei merkkejä kulumisesta. Dokumentaatio saatavilla. Koneeseen voi tutustua paikan päällä. Kjdpfxsvzr Auo Aafenf

Kunto: käytetty, PANalytical X’Pert PRO MPD Röntgendiffraktometri (XRD) Knedpjwycatjfx Aafof Ote huoltoraportista: Laite: PANalytical X’Pert PRO MPD Päiväys: 07.07.2021 Suoritetut työt: - Järjestelmän uudelleenasennus ja käyttöönotto - Ulkoisten syöttöjohtojen kytkentä - Lämpenemisvaihe - Goniometrin ja muiden komponenttien täysi säätö - Huolto ja viallisten osien vaihto Käytetyt varaosat: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERI, NI-CD PUHALLIN X-CELERATOR YKSIKKÖÖN SUODATIN, VESI Moottori PW3050 ("Laitetta ei ole testattu meillä") X’Pert PRO MPD on erittäin monipuolinen ja tehokas röntgendiffraktometri (XRD) kiteisten materiaalien rakenteelliseen karakterisointiin – ihanteellinen sekä puhtaaseen tutkimukseen että teollisuuden ja yliopistojen rutiinisovelluksiin. Modulaarisen rakenteen, nopean datankeruun, lämpötila- ja kaasuatmosfäärikontrollin ansiosta se soveltuu sekä rutiinianalyyseihin että vaativiin in-situ-kokeisiin. Tärkeimmät ominaisuudet: - Useat mittausgeometriat mahdollisia: - Heijastus Bragg-Brentano (θ–2θ) -moodissa - Läpäisygeometria kapillaareissa oleville jauhenäytteille - Valinnaisesti myös SAXS (pienen kulman röntgendiffraktio) nanorakenteille - Sädelähde ja detektorit: - Useimmiten kuparianodi (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - X’Celerator-ilmaisin (1D, erittäin nopea) rinnakkaiseen datankeruuseen - Modulaarinen järjestelmä PreFIX-tekniikalla: - Nopea optiikoiden ja näytetasojen vaihto ilman uudelleenkalibrointia - In-situ mittaukset korkeissa lämpötiloissa: - Mittaukset jopa n. 1200°C asti - Ohjattu atmosfääri: ilma, typpi, happi (rajoitetusti pelkistävä) Tyypilliset sovellukset: - Faasianalyysi ja kvantitatiivinen Rietveld-analyysi - Kiteenkokojen, mikrodeformaation, jäännösjännitysten määritys - In-situ-tutkimukset faasimuutoksista, hapettumisesta, kiteytymisestä jne. - SAXS-mittaukset nanopartikkelien ja huokosrakenteiden analyysiin - Laaja näytevalikoima: jauheet, ohutkalvot, keraamit, lääkkeet, katalyytit jne. Tekniset tiedot (tyypillisiä arvoja): - Kulma-alue: n. 0,5° – 150° - Askelkoko: jopa 0,002° tai hienompi - Goniometri: pystysuora, 0–0, säde n. 240 mm - Lämpötila-alue: huonelämpötilasta n. 1200 °C asti - Atmosfääri: ilma, N₂, O₂ (rajoitetusti pelkistävä) - Ilmaisimet: X’Celerator (1D), propotioinalilaskija Käyttökohteita: X’Pert PRO MPD on käytössä maailmanlaajuisesti, mm.: - Yliopistoissa (esim. ETH Zürich, TU Dresden, Wienin yliopisto) - Tutkimuslaitoksissa (esim. Max-Planck-instituutit, ICN2, IS2M) - Teollisuudessa (materiaalikehitys, lääketeollisuus, kemianteollisuus) Kunto: käytetty / used Toimitussisältö: (ks. kuva) (Tekniset tiedot ja tiedot voivat muuttua, virhevarauksin.) Lisätiedot ja kysymykset puhelimitse.

Kunto: hyvä (käytetty), Helmut Fischer Fischerscope Röntgenfluoresenssikerrosmittaus XDL-XYmZ Ksdew Hbkdepfx Aafjnf