Koordinaattimittauskone

Zeiss O-Inspect O-I 442

Monianturinen koordinaattimittalaite O-Inspect
O-Inspect O-I 442
Mittausalue: X = 400 mm, Y = 400 mm, Z = 200 mm
Pituusmittapoikkeama ISO 10360-2 mukaan
VAST XXT:llä:
MPE_E = (1,9 + L/250) µm,
MPE_P = 1,9 µm
Skannauskyky ISO 10360-4 mukaan VAST XXT:llä:
MPE_THP = 3,5 µm 68 sekunnissa
Pituusmittapoikkeama VDI/VDE 2617 osa 6.1 mukaan
discovery-zoom-objektiiville:
MPE_E2D(OT) = (1,9 + L/250) µm
Hyväksytty lämpötila-alue spesifikaatioille 19–21 °C
Laitteen ominaisuudet ja varustus:
 Portaalimittalaite liikkuvalla laitepöydällä
 Pöydän korkeus noin 850 mm
 Mittausjärjestelmä 0,1 µm resoluutiolla
 Integroitu tärinänvaimennus
 PC-pohjainen skannausohjaus (ISC) integroituna
 Valmius optiselle kamerajärjestelmälle Discovery Zoom Sensor ja taktilliselle skannausmittapää VAST XXT TL1
 Integroitu läpivalaisu
 Numeerinen ohjauspaneeli, vakio käännettävällä alustalla
 Kalibrointipallo D = 25 mm
 Kalibrointirengas
 Säännöllisesti ZEISSin kalibroima
 Viimeisin kalibrointi: huhtikuu 2025
 Täydellinen kalibrointihistoria saatavilla
 Laaja lisävarustepaketti, sisältää VAST XXT TL1, Discovery Zoom Sensor, RT-OI Horizontal Complete, reikäjakoalustan, lasikehyksen ja Calypso-ohjelmiston
 Alkuperäiset ZEISS-dokumentit olemassa
Laite on säännöllisesti kalibroitu ja tarkastettu ZEISSin toimesta. Vastaavat kalibrointipöytäkirjat ovat saatavilla.
Ppsdozg Ef Nepfx Aftew
Suoritetut kalibroinnit:
 lokakuu 2009
 marraskuu 2011
 marraskuu 2013
 tammikuu 2015
 tammikuu 2016
 tammikuu 2017
 tammikuu 2018
 helmikuu 2019
 tammikuu 2020
 maaliskuu 2022
 huhtikuu 2023
 huhtikuu 2025
Huomio:
ZEISSin säännölliset kalibroinnit dokumentoivat mittausjärjestelmän jatkuvan huollon ja asianmukaisen käytön. Vastaavat kalibrointipöytäkirjat voidaan esittää vakavaa ostopäätöstä varten.

Ilmoitus on käännetty automaattisesti. Käännösvirheitä saattaa esiintyä.