Käytetty Bruker Microflex myytävänä (4)

Kunto: käytetty, Tämä ilmoitus koskee Bruker microflex -massispektrometria Laite on täysin toimintakuntoinen ja valmis välittömään käyttöön. Fgodoxhdxqjpfx Acasc Bruker Microflex on matriisiavusteinen laserdesorptio/ionisaatio lentoaikamassispektrometri (MALDI-TOF MS), jota käytetään pääasiassa mikro-organismien, biomolekyylien (esim. proteiinit ja peptidit) sekä polymeerien nopeaan tunnistamiseen. Se kuuluu Brukerin MALDI Biotyper -sarjaan. Tärkeimmät komponentit: - Laserlähde: Typpilaser tai kiinteätilalaser (yleensä 337 nm UV) - Ionilähde: Tyhjiökammio, jossa MALDI-näytealusta - Lentoputki: Mittaa ionien lentoaikaa - Detektori: Muuntaa ionien saapumisajat massaspektriksi - MALDI-näytealusta: Metallilevy, johon näytteet ja matriisi tiputetaan Toimintaperiaate (yksinkertaistettuna): 1. Näytevalmistus: Analyytin ja MALDI-matriisin (esim. α-syano-4-hydroksikinnamiinihappo) sekoitus. 2. Laserionisaatio: Laser osuu matriisiin, joka ionisoi näytteen. 3. Ionien kiihdytys: Ionit kiihdytetään TOF-analysaattoriin. 4. Detektio: Lentoaika mitataan; pienemmät ionit saavuttavat detektorin nopeammin. 5. Spektri: Massa-/varaussuhde (m/z) vs intensiteetti. Tekniset tiedot (noin): - Mitat: Pöytämalli (noin 80 cm leveä) - Paino: n. 100–120 kg (mallista/-versiosta riippuen) - Virransyöttö: Normaali laboratoriojännite - Ympäristö: Vaatii puhtaan ja vakaan lämpötila/kosteusolosuhteen

Kunto: käytetty, Bruker Tyyppi: Tensor 27 IR-spektrometri Täysi näytejoustavuus. Parannetun QuickLockTM-mekanismin ja etupuolella olevan lukitusnapin ansiosta myös kookkaat lisävarusteet voidaan asentaa nopeasti ja erityisesti turvallisesti. Lisäksi INVENIO voidaan varustaa kolmella ohjelmisto-ohjatulla säteilyulostulolla useille ulkoisille moduuleille. FPA-mikro- ja makrokuvantaminen Muunneltava ulkoinen näytekammio (vasemmalla ja oikealla) yksilöllisiin kokeisiin Kuituoptinen liitäntä sondille nesteitä ja kiinteitä aineita varten Integrointipallo Fgjdpfx Acjvwciksaoc Automaattinen näytteenottaja nesteille Suoritustehoa lisäävä analyysimoduli HTS-XT Heijastusyksikkö ilma-vesi-rajapinnalle Paljon muuta! Kunto: käytetty Toimitussisältö: (katso kuva) (Tekniset tietojen ja tietojen muutokset ja virheet mahdollisia!) Lisäkysymyksiin vastaamme mielellämme puhelimitse.

Kunto: käytetty, Poistettu toimivasta yksiköstä. Katsothan myös muut ilmoituksemme. Fodpfjwxax Dex Acasgc

Kunto: erittäin hyvä (käytetty), Tyyppi: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 pyyhkäisyelektronimikroskooppi (PC-SEM) Moderni, korkearesoluutioinen digitaalinen pyyhkäisyelektronimikroskooppi, jossa uudentyyppinen elektroninen optiikka ja intuitiivinen, graafinen käyttöliittymä (GUI) Microsoft Windows XP Professional -alustalla. Laitteiston varustelu sisältää seuraavat ominaisuudet: Suurennusalue: 5x - 300 000x Kiihdytysjännite: 0,3 - 30 kV Volframilangakatodi (LaB6-katodi valinnaisena) Suuri, täysin moottoroitu näytteenpöytä eksentrisellä kallistuksella, mukana Graafinen navigointi näytteenpidikkeessä Helppo näytteen navigointi Click-Center-Zoom -toiminnolla Kuvan perusteella tapahtuva navigointi kahden navigaattorin kautta Suhteellinen koordinaattinavigointi Näytepositioiden tallennus ja palautus Säädettävä näkymäikkunan hallinta näytteenpöydällä Kuvakentän korjaus rotaation aikana tietokoneohjatulla eksentrisellä rotaatiolla Kuvakentän korjaus kallistuksen aikana tietokoneohjatulla eksentrisellä kallistuksella Mahdollisen kallistuskulman laskenta näytteen geometrian perusteella Automaattinen tarkennuksen jäljitys näytteen liikkuessa Z-suunnassa Älykkäät rajoitinkytkimet moottoroituihin akseleihin Näytteenpöydän liikealueet: x = 125 mm y = 100 mm z = 5 - 80 mm (portaattomasti) T = -10 °C – +90 °C R = 360° (rajaton) Sekundaarielektronidetektori korkeavakuumikäyttöön Uudentyyppinen, superkartiomainen objektiivilinssi takaa parhaan kuvanlaadun myös suurilla kallistuskulmilla Taattu resoluutio SE-kuvassa: 3 nm 30 kV:ssa ja 15 nm 1 kV:ssa Useiden detektorien reaaliaikainen kuvanäyttö samanaikaisesti Helppo näytenavigointi Click-Center-Zoomilla Tehokkaat toiminnot kuvamittaukseen Movie-toiminto dynaamisten prosessien tallennukseen Monipuolinen näytekammio useilla laajennusmahdollisuuksilla: vapaat laipat esim. EDX-, WDX-, EBSD-, katodoluminesenssi jne. Huoltovapaa, hiljainen pumppujärjestelmä, koostuu esipumpusta, värinättömästä korkeatehoisesta diffuusiopumpusta sekä sähkömagneettisesta venttiiliohjauksesta Laaja virheidenesto väärinkäyttöä ja ulkoisten medioiden vikoja vastaan Ergonominen, korkeussäädettävä järjestelmäpöytä SEM-starteripaketti: 2 näytepidikettä, työkalusarja ja 6 vaihtokatodia Lisävarusteena pyyhkäisyelektronimikroskooppiin: turbomolekyylipumppu vakio diffuusiopumpun sijaan Turbomolekyylipumpun käytön yhteydessä jäähdytysvettä ei enää tarvita SEM:n käyttöön. Muita SEM-varusteita: PC SEM:n ohjaukseen TFT-näytöllä ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX -järjestelmä EXTENDED Brukerin EDX-ohjelmisto siirretään ostajalle kaupan yhteydessä! Typetön, energiadispersiivinen röntgenanalyysijärjestelmä sisältäen: SDD-detektori 127 eV:lla tai paremmalla energian erotuskyvyllä Kaikkien alkuaineiden tunnistus boorista ylöspäin Värinätön, huoltovapaa. Peltier-jäähdytteinen (typetön) Pulssiprosessori TFT-näyttö Spektrimittaus ja alkuaineiden tunnistus Täysin automaattinen, kvantitatiivinen, standardivapaa alkuaineanalyysi Kuvanlouhinta Erittäin nopea laadullinen Line Scan Erittäin nopea laadullinen elementtikartoitus Datamanagement- ja arkistointijärjestelmä Fsdomn Rcqopfx Acaogc Raporttien luonti ja tulostus Tietojen siirto Asennus ja opastus HyperMap Multipoint-analyysi Bruker xFlash SDD-detektori signaalinkäsittely-yksiköllä SVE III Toimitussisältö: (katso kuvat) Kunto: käytetty (Muutokset ja virheet teknisissä tiedoissa mahdollisia!)