Käytetty Cameca Elektronimikroskooppi myytävänä (6)

Kunto: käytetty, Toiminnallisuus: tarkastamaton, koneen/ajoneuvon numero: SX-50, Käytetty Cameca SX-50 -elektronimikroproobi Cameca SX-50 -elektronimikroproobi (Electron Probe MicroAnalysis, EPMA) soveltuu mikroskooppisiin analyysitehtäviin. Laitteessa on 6 tuuman näytetaso, 3 WDX-spektrometriä useilla kiteillä (LiF, PET, TAP, ODPb, PC1, PC2, PC3). Elektronisondimikroanalyysi (EPMA) on mikroanalyysitekniikka, jonka avulla voidaan kuvantaa ja analysoida materiaaleja, joita ei tavallisesti kyetä havainnoimaan näkyvän valon optisilla menetelmillä. Iajdswnb D Tspfx Amrsu Järjestelmä toimitetaan täydellisenä oppaiden, huoltomanuaalien, ohjelmistojen ja tietokoneen kanssa. Mukana tulee myös runsaasti varaosia. Sisältää: 1 x Leybold Trivac D16B -tyhjiöpumppu 1 x Alcatel 2012 A -tyhjiöpumppu 2 x integroitua turbotyhjöpumppua

Kunto: lähes uudenveroinen (käytetty), Valmistusvuosi: 2024, Toiminnallisuus: täysin toimintakuntoinen, Zeiss XB 350 pyyhkäisyelektronimikroskooppi Varusteet ja tarvikkeet • Ilman FIB-saraketta • SmartSEM- ja SmartFIB-ohjelmistot • GIS Pt-esisäilijällä • Integroitu plasmapesuri • EDX Oxford Xplore 30 (sis. liitännän ja ohjelmiston) • Automaattinen 200 mm ilmanlukko • Sähkönläpäisy (2 x 15 kanavaa) • Kiertojäähdytin • Quiet Mode -vakuumipuskurisäiliö • ... sekä pöytä, näyttö, ohjauskonsolit (Zeissin oma näppäimistö + joystick) ja useita näytetelineitä Käyttöönotto: elokuu 2024 Sijainti: Mainz Saatavuus: Saatavilla lyhyellä varoitusajalla sopimuksen mukaan. Laite on edelleen käytössä ja sen voi mielellään tarkastaa ja esitellä. Ijdpfow Rdvvjx Amroau Laitteessa ei ole vikoja eikä vaurioita, ja se on täysin toimintakuntoinen. Lisätietoja pyynnöstä!

Kunto: erittäin hyvä (käytetty), ZEISS Tyyppi: DSM 962 Digitaalinen rasterielektronimikroskooppi DSM 962 on varustettu integroidulla 4 MB kuvamuistilla, 40 MB kiintolevyllä sisäiseen kuvien tallennukseen sekä asemilla datan ja kuvien ulkoiseen tallennukseen. Laitteen avulla saadaan nopeasti ja yksinkertaisesti tietoa näytteiden pintojen koostumuksesta ja morfologiasta aina submikrometriulottuvuuksiin asti. Suurentuma-alue 5-kertaisesta 300 000-kertaiseen mahdollistaa sekä makro- että mikrorakenteiden tutkimisen. Erikoisvarusteiden avulla sovellusalue voidaan laajentaa huomattavasti, mikä mahdollistaa esimerkiksi analyyttiset tutkimukset pintojen mikroalueilla. Laitteen käyttö onnistuu sekä perinteisten kytkimien kautta että näppäimistöllä/hiirellä (lisävaruste). Elektronioptiikka ja tyhjiöohjaus toimivat perinteisesti, kun taas kuvamuistin toiminnot ohjataan näppäimistöllä tai hiirellä (lisävaruste). Käyttöpaneelissa on erillinen näyttö valikkojen esittämistä varten. Tämä käyttöohje toimii opastuksena, jotta käyttäjä saavuttaa laitteella parhaat mahdolliset tulokset. Ohjeet on laadittu mahdollisimman yksinkertaisesti, jotta myös vähemmän kokenut käyttäjä saa tarvittavat valmiudet. Suurennusalue: 20x – 300 000x, työetäisyys 7 mm Portaat: sarjassa 1-2-3-5-10 Pienin suurennus: 5x, työetäisyys 50 mm Resoluutio: 4 nm – taattu volframikatodilla, 30 kV, 6 mm työetäisyys, näyte ei kallistettu Iedpezdthyjfx Amrjau 25 nm – taattu volframikatodilla, 1 kV, 6 mm työetäisyys, näyte ei kallistettu 3,5 nm – taattu optimaalisella LaB6-katodilla, 30 kV, 6 mm työetäisyys, näyte ei kallistettu Toimituslaajuus: (DSM 962 varusteineen, kuten kuvassa) Kunto: käytetty (Muutokset ja mahdolliset virheet teknisissä tiedoissa ja tiedoissa pidätetään!) Kysy kuljetusmahdollisuuksista ennen ostoa. Lisäkysymyksiin vastaamme mielellämme puhelimitse.

Kunto: erittäin hyvä (käytetty), Tyyppi: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 pyyhkäisyelektronimikroskooppi (PC-SEM) Moderni, korkearesoluutioinen digitaalinen pyyhkäisyelektronimikroskooppi, jossa uudentyyppinen elektroninen optiikka ja intuitiivinen, graafinen käyttöliittymä (GUI) Microsoft Windows XP Professional -alustalla. Laitteiston varustelu sisältää seuraavat ominaisuudet: Suurennusalue: 5x - 300 000x Iajdpfsmn Rcqjx Amreu Kiihdytysjännite: 0,3 - 30 kV Volframilangakatodi (LaB6-katodi valinnaisena) Suuri, täysin moottoroitu näytteenpöytä eksentrisellä kallistuksella, mukana Graafinen navigointi näytteenpidikkeessä Helppo näytteen navigointi Click-Center-Zoom -toiminnolla Kuvan perusteella tapahtuva navigointi kahden navigaattorin kautta Suhteellinen koordinaattinavigointi Näytepositioiden tallennus ja palautus Säädettävä näkymäikkunan hallinta näytteenpöydällä Kuvakentän korjaus rotaation aikana tietokoneohjatulla eksentrisellä rotaatiolla Kuvakentän korjaus kallistuksen aikana tietokoneohjatulla eksentrisellä kallistuksella Mahdollisen kallistuskulman laskenta näytteen geometrian perusteella Automaattinen tarkennuksen jäljitys näytteen liikkuessa Z-suunnassa Älykkäät rajoitinkytkimet moottoroituihin akseleihin Näytteenpöydän liikealueet: x = 125 mm y = 100 mm z = 5 - 80 mm (portaattomasti) T = -10 °C – +90 °C R = 360° (rajaton) Sekundaarielektronidetektori korkeavakuumikäyttöön Uudentyyppinen, superkartiomainen objektiivilinssi takaa parhaan kuvanlaadun myös suurilla kallistuskulmilla Taattu resoluutio SE-kuvassa: 3 nm 30 kV:ssa ja 15 nm 1 kV:ssa Useiden detektorien reaaliaikainen kuvanäyttö samanaikaisesti Helppo näytenavigointi Click-Center-Zoomilla Tehokkaat toiminnot kuvamittaukseen Movie-toiminto dynaamisten prosessien tallennukseen Monipuolinen näytekammio useilla laajennusmahdollisuuksilla: vapaat laipat esim. EDX-, WDX-, EBSD-, katodoluminesenssi jne. Huoltovapaa, hiljainen pumppujärjestelmä, koostuu esipumpusta, värinättömästä korkeatehoisesta diffuusiopumpusta sekä sähkömagneettisesta venttiiliohjauksesta Laaja virheidenesto väärinkäyttöä ja ulkoisten medioiden vikoja vastaan Ergonominen, korkeussäädettävä järjestelmäpöytä SEM-starteripaketti: 2 näytepidikettä, työkalusarja ja 6 vaihtokatodia Lisävarusteena pyyhkäisyelektronimikroskooppiin: turbomolekyylipumppu vakio diffuusiopumpun sijaan Turbomolekyylipumpun käytön yhteydessä jäähdytysvettä ei enää tarvita SEM:n käyttöön. Muita SEM-varusteita: PC SEM:n ohjaukseen TFT-näytöllä ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX -järjestelmä EXTENDED Brukerin EDX-ohjelmisto siirretään ostajalle kaupan yhteydessä! Typetön, energiadispersiivinen röntgenanalyysijärjestelmä sisältäen: SDD-detektori 127 eV:lla tai paremmalla energian erotuskyvyllä Kaikkien alkuaineiden tunnistus boorista ylöspäin Värinätön, huoltovapaa. Peltier-jäähdytteinen (typetön) Pulssiprosessori TFT-näyttö Spektrimittaus ja alkuaineiden tunnistus Täysin automaattinen, kvantitatiivinen, standardivapaa alkuaineanalyysi Kuvanlouhinta Erittäin nopea laadullinen Line Scan Erittäin nopea laadullinen elementtikartoitus Datamanagement- ja arkistointijärjestelmä Raporttien luonti ja tulostus Tietojen siirto Asennus ja opastus HyperMap Multipoint-analyysi Bruker xFlash SDD-detektori signaalinkäsittely-yksiköllä SVE III Toimitussisältö: (katso kuvat) Kunto: käytetty (Muutokset ja virheet teknisissä tiedoissa mahdollisia!)

Valmistusvuosi: 2022, kunto: lähes uudenveroinen (näyttelykone), Toiminnallisuus: täysin toimintakuntoinen, Kuvaus (tarkka varustelu): o 5-akselinen näytetasopöytä o Moderni, laajennettavissa oleva käyttöliittymä EDX-integraatiolla ja kuvien yhdistämisellä o SE-ilmaisin o Scintillaattori-BSE-ilmaisin (sisäänvedettävä) o In-Lens-ilmaisin o Matalapainejärjestelmä BSE-ilmaisimella (sisäänvedettävä) Iodpfx Asxzqw Temroau o Täysin ohjelmistointegroitu JEOL-EDX-järjestelmä (60mm²) o Sarakkeen sisäinen virranmittaus o Navigointikamera o Live-kamera o Ohjauspaneeli o Työpöytä, tietokone Windows-käyttöjärjestelmällä, 2 x 24" näyttö, näppäimistö

Valmistusvuosi: 2024, kunto: lähes uudenveroinen (näyttelykone), Toiminnallisuus: täysin toimintakuntoinen, JCM-7000 yhdistää helpon näytteen navigoinnin sekä joukon kehittyneitä automaattitoimintoja. Suuri näytekammio, korkea resoluutio sekä kytkettävä alipainekäyttö eivät-johteville näytteille tekevät tästä pöytämallisesta pyyhkäisyelektronimikroskoopista monipuolisen ja liikuteltavan kokonaisratkaisun. Ominaisuudet: • SE-/BSE-ilmaisin • Suurennos jopa x100.000, resoluutio noin 8 nm Iodpfxjxzqr Ds Amroau • Alipainekäyttö ei-johtaville näytteille • Laitteisto- ja ohjelmistointegroitu EDX-järjestelmä alkuaineanalyysiin • Live-alkuaineanalyysi, live-kuvaus (ml. 3D-kuvaus/topografia) • Intuitiivinen käyttö resepteillä, automaattitoiminnoilla, kuvayhdistelmillä jne. • Iso kammio näytteille Ø 80 mm saakka tai korkeudeltaan 50 mm • Kompakti & liikuteltava • Mitat (päätelaite): 324 mm L x 586 mm S x 566 mm K